总样件数
(Total Number of Units)
一个样件出现缺陷的机会数量
(Opportunities for Defects in One Unit)
缺陷的数量
(Number of Defects)
计算
西格玛水平 (Sigma Level)
每百万次机会里的缺陷数 (DPMO) =
合格率 (Yield %) =
过程能力指数 (Cpk) =
西格玛水平 (Sigma Level) =